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  • VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統
    VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統

    VT6000高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統以轉盤(pán)共聚焦光學(xué)系統為基礎,基于光學(xué)共軛共焦原理,結合高穩定性結構設計和3D重建算法,共同組成高精度測量系統。能在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。

    時(shí)間:2024-06-20型號:VT6100訪(fǎng)問(wèn)量:235
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  • CP200薄膜厚度臺階測量?jì)x
    CP200薄膜厚度臺階測量?jì)x

    中圖儀器CP系列薄膜厚度臺階測量?jì)x集成了超低噪聲信號采集、超精細運動(dòng)控制、標定算法等核心技術(shù),具備超高的測量精度和測量重復性。它主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀(guān)形貌參數的測量。

    時(shí)間:2024-06-20型號:CP200訪(fǎng)問(wèn)量:147
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  • SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀
    SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀

    中圖儀器SuperViewW納米級高精度白光干涉測厚儀的復合型EPSI重建算法,解決了傳統相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下,只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn),即可自動(dòng)掃描,重建其超光滑的表面區域,不見(jiàn)一絲重疊縫隙。

    時(shí)間:2024-06-14型號:SuperViewW1訪(fǎng)問(wèn)量:127
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  • CP200接觸式臺階儀測膜厚儀
    CP200接觸式臺階儀測膜厚儀

    CP系列接觸式臺階儀測膜厚儀超精密接觸式測量微觀(guān)輪廓,主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀(guān)形貌參數的測量。能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度,可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

    時(shí)間:2024-06-14型號:CP200訪(fǎng)問(wèn)量:110
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  • VT6100微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡
    VT6100微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡

    VT6000微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,以轉盤(pán)共聚焦光學(xué)系統為基礎,能在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀(guān)形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

    時(shí)間:2024-06-12型號:VT6100訪(fǎng)問(wèn)量:122
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  • C200接觸式表面形貌臺階測量?jì)x
    C200接觸式表面形貌臺階測量?jì)x

    CP系列接觸式表面形貌臺階測量?jì)x用于測量臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀(guān)形貌參數,是一款超精密接觸式微觀(guān)輪廓測量?jì)x器。它采用了線(xiàn)性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率。

    時(shí)間:2024-06-07型號:C200訪(fǎng)問(wèn)量:132
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  • SuperViewW1中圖精密白光干涉儀
    SuperViewW1中圖精密白光干涉儀

    SuperViewW中圖精密白光干涉儀基于白光干涉技術(shù)原理,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量,可測各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀(guān)幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-06-07型號:SuperViewW1訪(fǎng)問(wèn)量:143
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  • VT6100材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡
    VT6100材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡

    中圖儀器VT6000材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,通過(guò)系統軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數據處理與分析,可以獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數,從而實(shí)現器件表面形貌3D測量。

    時(shí)間:2024-06-13型號:VT6100訪(fǎng)問(wèn)量:160
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